聚焦（FIB离子束）去哪里检测?聚焦（FIB离子束）第三方检测机构。康派斯质量检测中心可提供聚焦（FIB离子束），拥有正规的材料检测实验室，检测仪器齐全，科研团队强大，5-7个工作日可出具原子力显微镜（AFM）检测报告，支持全国上门取样、寄样检测服检测周期短检测费用低检测数据科学准确l

聚焦（FIB离子束）仪器使用精细聚焦的离子束来修改和成像感兴趣的样品。聚焦离子双光束FIB主要用于创建非常精确的样品横截面，以便通过SEM，STEM或TEM进行后续成像或进行电路修改。此外，聚焦离子束FIB成像可用于直接对样品进行成像，检测来自离子或电子束的发射电子。聚焦离子双光束FIB的对比机制与SEM或STEM不同，因此在某些情况下可以获得独特的结构信息。聚焦离子束FIB/SEM将这两种技术集成到一个工具中，而单光束FIB仅包含离子束，电子束成像在单独的SEM，STEM或TEM仪器中进行。

作为样品制备工具，聚焦离子双光束FIB可以准确地产生样品的横截面，否则无法创建：

• 聚焦离子束FIB分析彻底改变了TEM样品的样品制备，使识别亚微米特征和精确制备横截面成为可能。
• 聚焦离子束FIB制备的切片广泛用于SEM显微镜，其中聚焦离子束FIB制备，SEM成像和元素分析可以使用相同的多技术工具进行。
• 聚焦离子束FIB制备的切片也用于俄歇电子能谱，以快速准确地提供地下特征的元素鉴定。
• 它是检测具有小而难以接近特征的产品的理想工具，例如半导体工业中的产品以及亚表面颗粒鉴定。
• 对于难以横截面的产品来说，这是一个不错的选择，例如难以抛光的软聚合物。

FIB理想用途

• 扫描电镜、STEM 和透射电镜样品制备
• 难以接近的小型样品特征的高分辨率横截面图像
• 通过原位提升进行微量取样

FIB优势强项

• 横截面小目标的最佳方法
• 快速、高分辨率成像
• 良好的颗粒对比度成像
• 支持许多其他工具的多功能平台

 

高精度：由于离子束具有较高的能量和较小的束斑直径，可以实现高精度的定点切割和微小区域的分析。

非接触式加工：FIB切割过程中不需要直接接触样品，可以避免对样品造成损伤。

可逆性：FIB切割过程不会改变样品的化学性质和结构，可以进行多次切割和分析。

多功能性：除了切割功能外，FIB还可以实现材料的剥离、沉积、注入和改性等功能

FIB缺点限制

• 通常需要真空兼容性
• 成像可能会破坏后续分析
• 分析面上的残留Ga
• 离子束损坏可能会限制图像分辨率
• 截面积小

FIB技术规格

• 检测到的信号：电子、二次离子、X射线、光（阴极发光）
• 成像/映射：是
• 横向分辨率/探头尺寸：7 nm（离子束）;20 nm（电子束）

制样说明

1.FIB-TEM的制样流程

针对表面薄膜，涂层，粉末大颗粒、块体等试样，通过对规定位置精确定位切割来制备TEM试样；

① 找到目标位置（定位非常重要），表面喷Pt保护（样品导电则不用喷Pt）；

② 将目标位置前后两侧的样品挖空，剩下目标区域；

③ 机械纳米手将这个薄片取出，开始离子束减薄；

④ 减薄到理想厚度后停止；

⑤ 将样品焊到铜网上的样品柱上，标注好样品位置。

康派斯第三方检测报告有哪些作用?可以帮您解决哪些问题?

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康派斯检测有什么优势?为什么要选择康派斯?

康派斯-大型研究型检测机构，针对企业在产品研发、质量控制、性能改进、工业诊断等过程中遇到的问题，提供专业分析、检测、测试等综合性解决方案。

康派斯寄样检测流程

1、寄样
2、初检样品
3、报价
4、双方确定，签订保密协议，开始实验
5、5-7个工作日完成实验
6、出具检测报告，后期服务。
以上是关于康派斯对聚焦离子束(FIB)的相关介绍，如有其他检测需求可以咨询实验室工程师帮您解答

FIB相关资源

• 网络研讨会：FIB
• 应用说明：高级显微镜

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