扫描声学显微镜(SAM)检测机构
扫描声学显微镜(SAM)去哪里检测?扫描声学显微镜(SAM)第三方检测机构。康派斯质量检测中心可提供扫描声学显微镜(SAM),拥有正规的材料检测实验室,检测仪器齐全,科研团队强大,5-7个工作日可出具扫描声学显微镜(SAM)检测报告,支持全国上门取样、寄样检测服检测周期短检测费用低检测数据科学准确l
扫描声学显微镜(SAM)使用声波来检测和识别设备、组件和材料中的内部分层、空隙、材料密度变化、缺陷和许多其他异常。
扫描声学显微镜SAM对分层和材料密度变化的存在高度敏感,使用X射线照相,红外成像和其他非破坏性技术很难检测到这些变化。它可以检测亚微米气隙,缺陷分辨率为~5μm。
康派斯提供各种成像模式,允许操作员根据样品中特征的方向获得最佳的观看视角。此外,康派斯的扫描声学显微镜SAM系统结合了先进的软件,硬件功能和各种换能器,这使康派斯能够为我们的客户提供市场上最好的成像。
SAM理想用途
- 界面分层
- 接头、粘接和密封分析
- 空隙检测
- 裂纹检测 – 晶圆、芯片和封装级别
- 印刷电路板异常
- 薄膜、钎焊、焊接和其他界面的成像附着力
SAM优势强项
- 无损检测
- 亚微米分层检测能力 (<0.2 μm)
- 广泛的低到超高探头频率和焦距范围,可为各种材料和样品提供最佳的穿透力和分辨率成像
SAM缺点限制
- 浸没在去离子水中的样品
- 高、非常大或不规则形状的样品。平面结构样品效果最好
- 减少多层/界面的成像,特别是由于非平面界面、特征和粗糙度(例如倾斜的刻面)而导致的柔软或多孔材料和声音散射
SAM技术规格
- A、B 和 C 模式扫描
- SALI(扫描声层成像)
- 脉冲回波/反射和直通传输
- 支持行业规范和标准
- IPC / JEDEC,J-STD-020,J-STD-035
- Mil-STD 883,方法2030,方法2035
- NASA,PEM-INST-001
SAM主要应用
- 失效分析
- 产品可靠性
- IPC / JEDEC J-STD-020(MSL分类需要)
- Mil-STD 883,方法 2030,方法 2035
- NASA,PEM-INST-001
- 芯片级封装 (CSP) 检测
- 堆叠芯片成像
- 塑料封装 IC 检测
- 工艺验证
- 供应商资格
- 产品检验
- 质量管理
- 研究与开发
- 假冒检测
康派斯第三方检测报告有哪些作用?可以帮您解决哪些问题?
- 产品质量问题:第三方检测报告可以帮助企业发现并解决产品质量问题,通过检测和评估,找出产品存在的缺陷和不足,从而进行改进和优化。
- 合规性风险:借助第三方检测报告,企业可以更好地确保产品符合相关法律法规和行业标准,避免可能出现的合规性风险。
- 市场准入问题:对于一些需要满足特定市场准入要求的产品,第三方检测报告可以作为其符合相关标准的证明,帮助企业顺利进入市场。
康派斯第三方检测报告不仅可以帮助企业全面了解和掌握产品质量和性能,还可以为企业的质量控制、合规性评估、技术认证等方面提供有力的支持,解决企业在产品开发、生产和销售过程中可能遇到的一系列问题。
康派斯检测有什么优势?为什么要选择康派斯?
康派斯-大型研究型检测机构,针对企业在产品研发、质量控制、性能改进、工业诊断等过程中遇到的问题,提供专业分析、检测、测试等综合性解决方案。
康派斯寄样检测流程
1、寄样
2、初检样品
3、报价
4、双方确定,签订保密协议,开始实验
5、5-7个工作日完成实验
6、出具检测报告,后期服务。
以上是关于康派斯对扫描声学显微镜(SAM)的相关介绍,如有其他检测需求可以咨询实验室工程师帮您
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您也可以致电400-9621-929与我们联系或填写下方表格,让专家工程师和您讨论具体的需求。
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